高低溫試驗箱（白）

高低溫試驗箱（白）

小型高低溫試驗箱用來考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫或低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。設(shè)備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于3%，且試驗樣品不會受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。

HGTH 系列產(chǎn)品能滿足以下各項標準：

GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗 A：低溫試驗方法。

GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗 B：高溫試驗方法。

GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗。

GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。

• 內(nèi)容量：225L（可定制）
• 溫度范圍：-40℃~150℃
• 溫度波動度：≤±0.5℃
• 溫度均勻性：≤2.0℃
• 溫度下降時間：+75℃~ -40℃（120分鐘內(nèi)）
• 溫度上升時間：-40℃~ +75℃（60分鐘內(nèi)）